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ニュース

「セミコン・ジャパン2003」に出展

SEMICON Japan2003 New Challenges!!翔たけ技術、広がる未来

世界最大規模の半導体製造装置・材料の国際展示会

当社ブ-スへのご来場ありがとうございました。

会期 2003年12月3日(水)~5日(金)3日間
10:00~17:00
会場 幕張メッセ
主催 SEMIジャパン
内容 半導体関連製品の材料から製造装置、検査装置までの分野が 一堂に展示する国内最大の国際展示会です。

ニッパツブース
ニッパツブース

■当社の小間番号

   

5ホール(小間No 5-A305)

■当社のみどころ

[検査装置]

マイクロコンタクタ(微細スプリングプローブ)を使用したウェハー検査用プローブカード、フルウェハーコンタクト、プローブカード、BAG・LGA用テストソケット、BAG・LAG用バーンインソケット、WLBIプローブカード等を展示します。

[半導体製造装置用部品]

・ろう付技術を応用した熱交換器、金属・セラミックヒータ、金属-セラミック接合部品、 セラミック溶射部品など、当社独自のセラミックス-金属の接合技術を応用した各種製品を展示します。
・ばねを応用したふた開閉バランスユニット「SPリフター」を展示します。

[クリーンルーム用部品]

クリーンルーム用シール材で有機ガスの発生が極めて少ない、特殊発泡ウレタン「ニッパレイF」を展示します。

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