「セミコン・ジャパン2003」に出展
世界最大規模の半導体製造装置・材料の国際展示会
当社ブ-スへのご来場ありがとうございました。
会期 | 2003年12月3日(水)~5日(金)3日間 10:00~17:00 |
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会場 | 幕張メッセ |
主催 | SEMIジャパン |
内容 | 半導体関連製品の材料から製造装置、検査装置までの分野が 一堂に展示する国内最大の国際展示会です。 |
ニッパツブース
■当社の小間番号
5ホール(小間No 5-A305)
■当社のみどころ
[検査装置]
マイクロコンタクタ(微細スプリングプローブ)を使用したウェハー検査用プローブカード、フルウェハーコンタクト、プローブカード、BAG・LGA用テストソケット、BAG・LAG用バーンインソケット、WLBIプローブカード等を展示します。
[半導体製造装置用部品]
・ろう付技術を応用した熱交換器、金属・セラミックヒータ、金属-セラミック接合部品、 セラミック溶射部品など、当社独自のセラミックス-金属の接合技術を応用した各種製品を展示します。
・ばねを応用したふた開閉バランスユニット「SPリフター」を展示します。
[クリーンルーム用部品]
クリーンルーム用シール材で有機ガスの発生が極めて少ない、特殊発泡ウレタン「ニッパレイF」を展示します。