「セミコン・ジャパン2009」に出展
世界を繋ぐ・地球を守る・未来を創る
会期 | 2009年12月2日(水)~4日(金)3日間 10:00~17:00 |
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会場 | 幕張メッセ(2~8ホール、国際会議場) |
主催 | SEMIジャパン |
内容 | 半導体関連製品の材料から製造装置、検査装置までの分野が 一堂に展示する世界最大級の国際展示会です。 |
半導体製造装置用部品ほか
■ ブースイメージ:4ホール(小間No.4A-201)
■ 出展製品
450mm(18インチ)ウェハ用アルミヒータ, 450mm(18インチ)ウエハ用アルミクーリングプレート, 複数層シャワーヘッド, マシナブルセラミックス, セラミックスばね, メタルベースプリント配線板
■ 出展製品の見どころ
450mm(18インチ)サイズのステージヒータ、クーリングプレートに加え、多層シャワーヘッドなど次世代装置向け製品を展示します。また、セラミックス(SiC)と金属との大面積接合品など、当社独自の高度接合技術を紹介します。
検査装置用ユニット
ブースイメージ:8ホール(小間No.8D-801)
■ 出展製品
Microcontactor, フルウエハープローブカード, WLCSP用プローブカード, ウエハーレベルバーンインプローブカード, テストソケット, PoPデバイス用テストソケット, ケルビン測定用ソケット, TAB(TCP/COF)用O/S検査ユニット, TAB(TCP/COF)用ファンクションテスト用プローブカード, PKG用O/S検査ユニット
■ 出展製品の見どころ
Glittertechnology®により耐久性と歩留の向上を実現したMicrocontactor。さらにC.T.E.(Contorolled Testing Equipment)という発想により、テスト環境をトータルサポート。12inch FWLT ProbeCard、COAXSOCKET、Kelvin測定など最適なTest Solutionをご紹介致します。