| 半導体検査に使用されるフルウエハーレベルテスト（FWLT）用プローブカードは、当社の微細ばね技術を応用した製品の一つです。直径30cmのエリアの中には、マイクロコンタクタが0.2mmのピッチで23,010本も立っています。このほかマイクロコンタクタの応用製品は、液晶パネルの検査や、基板の導通検査など先端分野に生かされています。これらの製品は、12月5日(水)〜7日(金)まで、千葉市・幕張メッセで開催される世界最大の半導体製造装置・部品材料の展示会「セミコン・ジャパン2007」に出展しています。ぜひご覧ください。 |
| 日本経済新聞 2007年11月28日（朝刊） |
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