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製品情報

Microcontactor(マイクロコンタクタ)

独自に開発した新構造精密プローブを使用

豊富な経験から生まれた多彩なユニット構造に、信頼性を誇る自社製細径プローブを使用

独自の精密加工技術を駆使し、45μピッチ(4段千鳥配列)、150μピッチ(格子配列)までのプローブユニット製作を可能にしました。高精度・高機能で、貴社のニ-ズに十分応えられるユニットをご提供いたします。

当社プロービングユニットの特徴

製品紹介

FPD(フラットパネルディスプレイ)用プローブユニット

用途:
TFT、低温Poly-Si、有機EL 他

特徴:
・狭ピッチ対応 50μmピッチ対応可能(千鳥配列)。
・高精度 プローブピン先端位置精度レンジ30μm以内。
・高耐久性 独自開発のプローブピンにより高耐久性を実現。

パッケージ基板・TAB検査用プローブユニット

用途:
セラミックパッケージ、プラスチックパッケージ、TABテープ、COF、PCBなどのO/S検査

特徴:
・狭ピッチ対応 直列0.15mm~
・高精度 プローブピン先端位置精度 レンジ30μm以内。
・高耐久性 独自開発の高耐久性材を使用。
・垂直式パイプレスプローブ 低荷重の実現、抵抗値が安定、交換が容易。

フルウェハープローブカード

用途:
ウェハー 一括コンタクトタイプのプローブカード:12”まで対応

特徴:
・WLBIにも対応。
・CTE適合材をユニットハウジングに使用。
・常温一括コンタクトにも適合。

ウェハー検査用プローブカード

用途:
ダイシング後のウエハーチップの電気特性検査用プローブ

特徴:
・エリアアレイ対応(C4,FlipChip,UBM)。
・コンタクト回数によらず安定した抵抗を実現。

テストソケット

用途:
PGA,BGA,LGA,QFP,QFN等:ハンドラー/マニュアルテスト用ソケット

特徴:
・低抵抗,低インダクタンスを実現。
・独自技術により耐久性を向上。
・大電流、RF測定、ケルビン測定、鉛フリーへも対応。

実装TAB検査用プローブカード

用途:
LCDドライバー等のTCP、COF向けファンクションテスト

特徴:
・垂直プローブ採用により、マルチテストを提案。
・ユーザーにてメンテナンスが可能。

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