Microcontactor(マイクロコンタクタ)
独自に開発した新構造精密プローブを使用
豊富な経験から生まれた多彩なユニット構造に、信頼性を誇る自社製細径プローブを使用
独自の精密加工技術を駆使し、45μピッチ(4段千鳥配列)、150μピッチ(格子配列)までのプローブユニット製作を可能にしました。高精度・高機能で、貴社のニ-ズに十分応えられるユニットをご提供いたします。
当社プロービングユニットの特徴
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1.抵抗値の変動が少ない
- 電気経路中に摺動導通部がありません。(VWPシリーズ)
- 金属摺動部がないため、ダスト発生抑止構造となっています。(VWPシリーズ)
- 一般構造のプローブは、プランジャーとバレル間に発生する酸化物により抵抗値は大幅に変動しますが、ニッパツ製プローブは、その影響を受けません。
- 独自開発のスプリング構造により、低抵抗・低インダクタンスを実現。(SCPシリーズ)
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2.プローブ先端の位置精度が高い
- ユニット組み付け後の精度:レンジ20μ対応可能。
- 耐磨耗仕様により、磨耗による精度劣化を抑止。
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3.剛性が高い
- パイプレスのため、プランジャー径が大きくなり、剛性が上がります。
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4.多彩なユニット構造
- 必要先端位置精度、ピッチ、パターン、ストローク等の条件により最適な構造が決められます。
製品紹介
FPD(フラットパネルディスプレイ)用プローブユニット
用途:
TFT、低温Poly-Si、有機EL 他
特徴:
・狭ピッチ対応 50μmピッチ対応可能(千鳥配列)。
・高精度 プローブピン先端位置精度レンジ30μm以内。
・高耐久性 独自開発のプローブピンにより高耐久性を実現。
パッケージ基板・TAB検査用プローブユニット
用途:
セラミックパッケージ、プラスチックパッケージ、TABテープ、COF、PCBなどのO/S検査
特徴:
・狭ピッチ対応 直列0.15mm~
・高精度 プローブピン先端位置精度 レンジ30μm以内。
・高耐久性 独自開発の高耐久性材を使用。
・垂直式パイプレスプローブ 低荷重の実現、抵抗値が安定、交換が容易。
フルウェハープローブカード
用途:
ウェハー 一括コンタクトタイプのプローブカード:12”まで対応
特徴:
・WLBIにも対応。
・CTE適合材をユニットハウジングに使用。
・常温一括コンタクトにも適合。
ウェハー検査用プローブカード
用途:
ダイシング後のウエハーチップの電気特性検査用プローブ
特徴:
・エリアアレイ対応(C4,FlipChip,UBM)。
・コンタクト回数によらず安定した抵抗を実現。
テストソケット
用途:
PGA,BGA,LGA,QFP,QFN等:ハンドラー/マニュアルテスト用ソケット
特徴:
・低抵抗,低インダクタンスを実現。
・独自技術により耐久性を向上。
・大電流、RF測定、ケルビン測定、鉛フリーへも対応。
実装TAB検査用プローブカード
用途:
LCDドライバー等のTCP、COF向けファンクションテスト
特徴:
・垂直プローブ採用により、マルチテストを提案。
・ユーザーにてメンテナンスが可能。